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HORIBA近紅外熒光光譜儀NanoLog®概述
HORIBA Scientific（Jobin Yvon光譜技術(shù)）—-熒光光譜儀器的者，提供全套穩(wěn)態(tài)、瞬態(tài)和穩(wěn)-瞬態(tài)以及各種偶聯(lián)技術(shù)的解決方案。
借助于成熟的FluoroLog®技術(shù)，Nanolog®采用模塊化設(shè)計(jì)，即可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)態(tài)測(cè)量，也可實(shí)現(xiàn)瞬態(tài)測(cè)量（TCSPC技術(shù)），系統(tǒng)搭配成像光譜儀，可實(shí)現(xiàn)紅外三維熒光快速測(cè)量。
NanoLog ®系列儀器專(zhuān)門(mén)用于納米技術(shù)和納米材料的前沿研究，NanoLog ®可以檢測(cè)到800-1700nm的近紅外范圍，可選~2μm的多通道檢測(cè)器和~3μm的單通道檢測(cè)器，同時(shí)也可實(shí)現(xiàn)紫外-可見(jiàn)區(qū)熒光光譜測(cè)量。專(zhuān)為單壁碳納米管（SWNTs）設(shè)計(jì)的NanoSizer®軟件，可計(jì)算熒光共振能量傳遞(FRET)和碳管內(nèi)徑分布，并且在微秒時(shí)間內(nèi)就能獲得完整的二維光譜圖，1秒內(nèi)獲得的激發(fā)-發(fā)射三維熒光光譜圖。
可選附件：
· 超連續(xù)激光光源
· 液氮杜瓦瓶
· HPLC流通池
· 光纖導(dǎo)入支架
· 多芯光纖
· 四位電磁攪拌控溫樣品架
· 兩位電磁攪拌控溫樣品架
· 單池電磁攪拌控溫樣品架
· 固體樣品架
· 積分球
· 停留附件
· 顯微鏡耦合部件
· 多孔板閱讀器
· 鉑爾貼控溫裝置
· 外部觸發(fā)裝置
· 自動(dòng)滴定注射附件
· 1~5/50/250μL微量樣品池
· 截止濾光片
· 偏振片附件
· 低溫附件
技術(shù)參數(shù)：
· 450W的大功率連續(xù)氙燈，涵蓋UV~NIR波長(zhǎng)范圍
· 快速獲得全波長(zhǎng)范圍激發(fā)-發(fā)射三維熒光圖
· Symphony II InGaAs陣列檢測(cè)器：800~1700nm；規(guī)格可選：256×1，512×1和1024×1，單像元25µm；噪音水平：650e–rms （液氮制冷）；可選電制冷；擴(kuò)展范圍可選（1.1-2.2µm）
· iHR320發(fā)射光譜儀：焦長(zhǎng)=320mm；f/4.1；線色散=2.64nm/mm；分辨率=0.06nm；全軟件控制三光柵塔輪（所有測(cè)定在光柵刻線數(shù)1200gr/mm條件下）
· 固態(tài)近紅外檢測(cè)器，光電倍增管覆蓋UV~NIR全光譜范圍壽命測(cè)定，采用時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)技術(shù)測(cè)定熒光壽命范圍：100ps~1ms（UV~NIR）；磷光壽命范圍1us~>10s（UV~NIR）
HORIBA近紅外熒光光譜儀NanoLog®特點(diǎn)
★ 一秒內(nèi)獲得激發(fā)-發(fā)射三維光譜
★ 高靈敏度的近紅外InGaAs陣列檢測(cè)器
★ 高光譜分辨率
★ 易于實(shí)現(xiàn)SWNTs的定性和定量分析
★ 可選多種檢測(cè)器適于紫外至近紅外光譜范圍的檢測(cè)需求：
– PMT用于高靈敏度和時(shí)間分辨的測(cè)量
– InGaAs陣列檢測(cè)器用于NIR數(shù)據(jù)的快速采集
– CCD陣列檢測(cè)器用于UV-Vis數(shù)據(jù)的快速采集
★ 同時(shí)解析量子點(diǎn)
★ 易于實(shí)現(xiàn)能量轉(zhuǎn)移研究
★ 模塊設(shè)計(jì)以滿足不同實(shí)驗(yàn)的需求
